本文件规定了集成电路测试用微波探针（以下简称“探针”）的分类、应用要求、故障判定、推荐指数、维护需求等。本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用。
DB51/T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范
起草单位：中国电子科技集团公司第九研究所
起草人：刘福涵、冯楠轩、王慧丽、张芦、高春燕、丁敬垒、李晓宇、张志红、高晓琴、肖佳琪
DB51/T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范
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DB51/T 3207-2024标准状态
- 发布于：2024-12-03
- 实施于：2024-12-29
- *非实时更新以实际为准