本文件适用于指导安全芯片的非入侵式攻击缓解测试，从攻击与测试两个角度为厂商提供安全芯片的设计参考。
YD/T 6305-2024 安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法
起草单位：北京理工大学、中国信息通信研究院、华为技术有限公司、北京数缘科技有限公司、南京理工大学、北京智芯微电子科技有限公司、北京邮电大学、郑州信大捷安信息技术股份有限公司、深圳市纽创信安科技开发有限公司、数据通信科学技术研究所、中国信息通信科技集团有限公司、北京数字认证股份有限公司、北京中宇万通科技股份有限公司、鼎铉商用密码测评技术（深圳）有限公司、中兴通讯股份有限公司、蚂蚁科技集团股份有限公司、新华三技术有限公司
起草人：王安、魏淙洺、周文权、丁瑶玲、孙绍飞、张靖奇、祝烈煌、袁琦、张宏星、郑学欣、王剑、李强、徐秀、马聪、高思、张梦良、张小虎、张正、李正华、于鹏绅、姜海天、周永彬、刘月君、高宜文、李延、胡晓波、郑世慧、马向亮、刘献伦、刘为华、王宗岳、王竹萍、梅秋丽、梁承志、李广超、王新华、田东波、黄凯、胡之斐、周继华、郭智慧、李超、万晓兰、杨雪、刘铮、刘安女、王子瑜、钱宇晗、杨易明。