内容简要 本文件主要技术内容包括基于人眼空间响应的Mura缺陷量化的主观实验测试方法，该方法采用双刺激度对照实验方法，以减少主观因素对实验结果的影响。同时提出Mura缺陷各因素的计算方法…
T/HBAI 001-2024 有机发光二极管显示器 表面云纹 (Mura)缺陷量化方法
主要起草人：杨华、尹周平、郑增强、朱钦淼、刘天洋、唐斯昂、闻铭、刘洒、林松、陈若愚
起草单位：华中科技大学、武汉精测电子集团股份有限公司、武汉数字化设计与制造创新中心有限公司
范围：本文件规定了有机发光二极管显示器表面云纹（Mura）缺陷量化的分级标准及实验条件、方法。本文件主要适用于有机发光二极管显示器。本文件主要技术内容包括基于人眼空间响应的Mura缺陷量化的主观实验测试方法，同时提出Mura缺陷各因素的计算方法和量化模型，包括多因素非线性拟合模型和基于MLP的神经网络模型。